НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКАЯ ЛАБОРАТОРИЯ АВТОМАТИЗИРОВАННЫХ СИСТЕМ НАУЧНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ (НИЛ-35)
Главная Основные результаты Материальная база научных исследований Источники финансирования Контакты

 

ВНИМАНИЕ! САЙТ НАХОДИТСЯ НА РЕКОНСТРУКЦИИ.
Приносим извинения за неудобства.

История создания:

Научно-исследовательская лаборатория автоматизированных систем научных исследований (НИЛ-35) СГАУ им. С.П. Королева (НИЛ-35) организована путем объединения научно-исследовательской лаборатории автоматизированных систем научных исследований, учрежденной в университете совместным решением Академии наук СССР (АН СССР) и Министерства высшего и среднего специального образования РСФСР (МВССО РСФСР) от 13/17 декабря 1979г. № 108/596, и научно-исследовательской лаборатории кафедры технической кибернетики, созданной в соответствии с решением совета университета от 26 ноября 1987 г. (протокол № 3).

Научный руководитель лаборатории до 2009г. действительный член РАН Сойфер Виктор Александрович
Научный руководитель лаборатории с 2009г. д.ф.-м.н., профессор Казанский Николай Львович
Заведующий лабораторией д.ф.-м.н. Скиданов Роман Васильевич

Всего в лаборатории работает 11 докторов наук и 16 кандидатов наук.

Тематика исследований:

Создание методов проектирования, технических и программных средств и внедрение типовых информационно-вычислительных комплексов для автоматизации испытаний образцов новой техники;
компьютерная оптика и обработка изображений;
дифракционная нанофотоника.
теоретический расчет и компьютерное проектирование дифракционной оптики.
Разработка теоретических основ и информационных технологий моделирования дифракционных оптических элементов (ДОЭ).
Разработка светотехнических устройств с использованием дифракционных оптических элементов (ДОЭ).
Экспериментальные исследования опытных образцов ДОЭ.
Разработка математических методов, алгоритмов и новых информационных технологий цифровой обработки сигналов, анализа изображений и распознавания образов.
Разработка технологий формирования микрорельефа и технологических комплексов для изготовления макетных образцов дифракционных оптических элементов (ДОЭ) и оптоэлектронных приборов на их основе.